VLSI Design and Test : 17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings (Communications in Computer and Information Science) / Gaur, Manoj Singh (EDT)/ Zwolinski, Mark (EDT)/ Laxmi, Vijay (EDT)

VLSI Design and Test : 17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings (Communications in Computer and Information Science) （2013）

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VLSI Design and Test : 17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings (Communications in Computer and Information Science) （2013）

Gaur, Manoj Singh (EDT)/ Zwolinski, Mark (EDT)/ Laxmi, Vijay (EDT)

ウェブストア価格 ¥11,458（本体¥10,417）
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. K（2013/12発売）
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 388 p.
言語 ENG
商品コード 9783642420238
DDC分類 621.395

Full Description

This book constitutes the refereed proceedings of the 17th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2013, held in Jaipur, India, in July 2013. The 44 papers presented were carefully reviewed and selected from 162 submissions. The papers discuss the frontiers of design and test of VLSI components, circuits and systems. They are organized in topical sections on VLSI design, testing and verification, embedded systems, emerging technology.

VLSI design.- Testing and verification.- Embedded systems.- Emerging technology.