Atomic and Nuclear Analytical Methods : Xrf, Mssbauer, Xps, Naa and Ion-beam Spectroscopic Techniques

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Atomic and Nuclear Analytical Methods : Xrf, Mssbauer, Xps, Naa and Ion-beam Spectroscopic Techniques

Verma, Hem Raj

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Springer（2010/02発売）
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 390 p.
言語 ENG
商品コード 9783642067730
DDC分類 530

Full Description

This book compares and offers a comprehensive overview of nine analytical techniques important in material science and many other branches of science. All these methods are already well adapted to applications in diverse fields such as medical, environmental studies, archaeology, and materials science. This clearly presented reference describes and compares the principles of the methods and the various source and detector types.

X-ray Fluorescence (XRF) and Particle-Induced X-ray Emission (PIXE).- Rutherford Backscattering Spectroscopy.- Elastic Recoil Detection.- Mössbauer Spectroscopy (MS).- X-Ray Photoelectron Spectroscopy.- Neutron Activation Analysis.- Nuclear Reaction Analysis and Particle-Induced Gamma-Ray Emission.- Accelerator Mass Spectrometry (AMS).