Modelldiagnose in der Bayesschen Inferenz : Dissertationsschrift (Anwendungsorientierte Statistik .4) (Neuausg. 1999. 149 S. 210 mm)

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Modelldiagnose in der Bayesschen Inferenz : Dissertationsschrift (Anwendungsorientierte Statistik .4) (Neuausg. 1999. 149 S. 210 mm)

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  • 製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版
  • 商品コード 9783631346105

Description


(Text)
Die Modelldiagnose in der linearen Regression und anderen statistischen Modellen entwickelt sich zu einem wirkungsvollen Instrument der Statistik mit originellen Ideen und Maßen. Der Sensitivitätsanalyse der klassischen Inferenz stellt der Autor Bayessche Ansätze gegenüber. Behandelt werden die Regressionsdiagnose, Diagnose in MCMC-Modellen und allgemeine Probleme der Modelldiagnose. Im Mittelpunkt der neuen Forschungsergebnisse stehen Bayessche Ausreißertests und fortgeschrittene Ausreißermodelle.
(Table of content)
Aus dem Inhalt: Gegenüberstellung von Sensitivitätsanalyse der klassischen Inferenz und Bayesscher Ansätze - Regressionsdiagnose, Diagnose in MCMC-Modellen, allgemeine Probleme der Modelldiagnose - Im Mittelpunkt der neuen Forschungsergebnisse: Bayessche Ausreißertests und fortgeschrittene Ausreißermodelle.
(Author portrait)
Der Autor: Reinhard Vonthein wurde 1966 in Hamburg geboren. 1986 begann er mit dem Studium der Statistik an der Universität München. Nach dem Diplom 1993 folgte eine Anstellung an der Universität Basel. Promotion 1998.

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