Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures : Phonons, Plasmons, and Polaritons (Springer Tracts in Modern Physics Vol.209) （2004. XI, 193 p. w. 77 ill.）

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Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures : Phonons, Plasmons, and Polaritons (Springer Tracts in Modern Physics Vol.209) （2004. XI, 193 p. w. 77 ill.）

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  • 製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 193 p.
  • 商品コード 9783540232490

Full Description

The study of semiconductor-layer structures using infrared ellipsometry is a rapidly growing field within optical spectroscopy.

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