磁性の計測技術と新しい磁性薄膜の物性 Ultrathin Magnetic Structures, 4 Vols.. Vol.2 Measurement Techniques and Novel Magnetic Properties （2nd pr. 2004. XVI, 350 p. w. 171 figs. 24,5 cm）

磁性の計測技術と新しい磁性薄膜の物性<br>Ultrathin Magnetic Structures, 4 Vols.. Vol.2 Measurement Techniques and Novel Magnetic Properties （2nd pr. 2004. XVI, 350 p. w. 171 figs. 24,5 cm）

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磁性の計測技術と新しい磁性薄膜の物性
Ultrathin Magnetic Structures, 4 Vols.. Vol.2 Measurement Techniques and Novel Magnetic Properties （2nd pr. 2004. XVI, 350 p. w. 171 figs. 24,5 cm）

Herausgeber: Heinrich, Bretislav/ Bland, J. A. C.

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製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 350 p., 171 figs.
商品コード 9783540219569

Full Description

The ability to understand and control the unique properties of interfaces has created an entirely new field of magnetism, with profound impact in technology and serving as the basis for a revolution in electronics. Our understanding of the physics of magnetic nanostructures has also advanced significantly. This rapid development has generated a need for a comprehensive treatment that can serve as an introduction to the field for those entering it from diverse fields, but which will also serve as a timely overview for those already working in this area. The four-volume work Ultra-Thin Magnetic Structures aims to fulfill this dual need. The original two volumes - now available once more - are "An Introduction to the Electronic, Magnetic and Structural Properties" (Vol. I) and Measurement Techniques and Novel Magnetic Properties (this volume). Two new volumes, "Fundamentals of Nanomagnetism" and "Applications of Nanomagnetism," extend and complete this comprehensive work by presenting the foundations of spintronics.

Magnetic Metal Films on Semiconductor Substrates.- Magnetic Coupling and Magnetoresistance.- Radio Frequency Techniques.- Magneto-Optical Effects in Ultrathin Magnetic Structures.- Mössbauer Spectroscopy as a Means of Characterizing Surfaces, Thin Films, and Superlattices.