自己組織化メゾスコピック半導体構造からのX線散漫散乱<br>X-Ray Diffuse Scattering at Self-Organized Mesoscopic Semiconductor Structures (Springer Tracts in Modern Physics Vol.199) (2004. 200 p. w. 100 figs.)

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自己組織化メゾスコピック半導体構造からのX線散漫散乱
X-Ray Diffuse Scattering at Self-Organized Mesoscopic Semiconductor Structures (Springer Tracts in Modern Physics Vol.199) (2004. 200 p. w. 100 figs.)

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  • 製本 Hardcover:ハードカバー版/ページ数 200 p., 100 illus.
  • 商品コード 9783540201793

基本説明

Contents: Basic Principles of X-Ray Diffuse Scattering on Mesoscopic Structures.- Experimental Optimization.- A Model System: LPE SiGe/Si(001) Islands.- Dynamical Scattering at Grazing Incidence.- Characterization of Quantum Dots.- and more.

Description


(Text)
This monograph represents a critical survey of the outstanding capabilities of X-ray diffuse scattering for the structural characterization of mesoscopic material systems. The mesoscopic regime comprises length scales ranging from a few up to some hundreds of nanometers. It is of particular relevance at semiconductor layer systems where, for example, interface roughness or low-dimensional objects such as quantum dots and quantum wires have attracted much interest. An extensive overview of the present state-of-the-art theory of X-ray diffuse scattering at mesoscopic structures is given followed by a valuable description of various experimental techniques. Selected up-to-date examples are discussed. The aim of the present book is to combine aspects of self-organized growth of mesoscopic structures with corresponding X-ray diffuse scattering experiments.
(Table of content)
A Brief Introduction to the Topic.- Basic Principles of X-Ray Diffuse Scattering on Mesoscopic Structures.- Experimental Optimization.- A Model System: LPE SiGe/Si(001) Islands.- Dynamical Scattering at Grazing Incidence.- Characterization of Quantum Dots.- Characterization of Interface Roughness.- Appendix.