Zielorientierte Methodiken zum Bestehen der Europäischen Eignungsprüfung (EEP) : Patentrechtliche Grundlagen für Teile A, B, C, D; Principles of Patent Law for Parts A, B, C, D / Herrmann, Daniel

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Zielorientierte Methodiken zum Bestehen der Europäischen Eignungsprüfung (EEP) : Patentrechtliche Grundlagen für Teile A, B, C, D; Principles of Patent Law for Parts A, B, C, D （2017. 223 S. 297 mm）

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Zielorientierte Methodiken zum Bestehen der Europäischen Eignungsprüfung (EEP) : Patentrechtliche Grundlagen für Teile A, B, C, D; Principles of Patent Law for Parts A, B, C, D （2017. 223 S. 297 mm）

Herrmann, Daniel

ウェブストア価格 ¥24,774（本体¥22,522）
BECK JURISTISCHER VERLAG（2017発売）
外貨定価 EUR 99.00
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版
商品コード 9783406707896

Description

(Text)
Zum WerkF r alle Teilnehmer der Europ ischen Eignungspr fung (EEP) bietet das neue Werk zielorientierte Methodiken zum Bestehen der EEP in den Teilen A, B, C und D. Alle pr fungsrelevanten Themen sind in deutscher und englischer Sprache synoptisch dargestellt. Besonderes Gewicht wird auf inhaltlich gut strukturierte Hilfestellungen gelegt.Besonders hilfreich: Immer dort, wo es f r die Methodiken n tig ist, sind auch patentrechtliche Grundlagen erl utert. Dabei wird jeweils auf Gesetze, Rechtsprechung und Pr fungsrichtlinien verwiesen.Vorteile auf einen Blick- Schritt-f r-Schritt Vorgehensweisen- Zeitangaben pro Bearbeitungsschritt- Details der Punktevergabe- Pr fungsschemata f r patentrechtliche Fragen- Formulierungsvorschl ge und ganze Textpassagen- Tabellen als Bearbeitungshilfen- praktische Tipps f r die Pr fungZielgruppe:F r Teilnehmer der Europ ischen Eignungspr fung.