Electromigration inside Logic Cells : Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS

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Electromigration inside Logic Cells : Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS

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  • 製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 118 p.
  • 商品コード 9783319488981

Full Description

This book describes new and effective methodologies for modeling, analyzing and mitigating cell-internal signal electromigration in nanoCMOS, with significant circuit lifetime improvements and no impact on performance, area and power.

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