Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices (Springer Theses)

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Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices (Springer Theses)

Celano, Umberto

ウェブストア価格 ¥24,313（本体¥22,103）
Springer International Publishing AG（2016/06発売）
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製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 175 p.
商品コード 9783319395302

Full Description

This thesis presents the first direct observations of the 3D-shape, size and electrical properties of nanoscale filaments, made possible by a new Scanning Probe Microscopy-based tomography technique referred to as scalpel SPM. Using this innovative technology and nm-scale observations, the author achieves essential insights into the filament formation mechanisms, improves the understanding required for device optimization, and experimentally observes phenomena that had previously been only theoretically proposed.

Introduction.- Filamentary-Based Resistive Switching.- Nanoscaled Electrical Characterization.- Conductive Filaments: Formation, Observation and Manipulation.- Three-Dimensional Filament Observation.- Reliability Threats in CBRAM.- Conclusions and Outlook.