Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices (Springer Theses)

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Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices (Springer Theses)

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  • 製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 175 p.
  • 商品コード 9783319395302

Full Description

This thesis presents the first direct observations of the 3D-shape, size and electrical properties of nanoscale filaments, made possible by a new Scanning Probe Microscopy-based tomography technique referred to as scalpel SPM.

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