奥健夫（滋賀県立大学）著／先端ナノ材料の構造解析 Structure Analysis of Advanced Nanomaterials.Vol.1 : Nanoworld by High-Resolution Electron Microscopy

奥健夫（滋賀県立大学）著／先端ナノ材料の構造解析<br>Structure Analysis of Advanced Nanomaterials.Vol.1 : Nanoworld by High-Resolution Electron Microscopy

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奥健夫（滋賀県立大学）著／先端ナノ材料の構造解析
Structure Analysis of Advanced Nanomaterials.Vol.1 : Nanoworld by High-Resolution Electron Microscopy

Oku, Takeo

ウェブストア価格 ¥40,770（本体¥37,064）
De Gruyter（2014/09発売）
外貨定価 EUR 154.95
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製本 Hardcover:ハードカバー版
商品コード 9783110304725

Full Description

High-resolution electron microscopy allows the imaging of the crystallographic structure of a sample at an atomic scale. It is a valuable tool to study nanoscale properties of crystalline materials such as superconductors, semiconductors, solar cells, zeolite materials, carbon nanomaterials or BN nanotubes.