VLSI Design and Test : 29th International Symposium, VDAT 2025, Chandigarh, India, August 7-9, 2025, Proceedings, Part I (Communications in Computer and Information Science)

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VLSI Design and Test : 29th International Symposium, VDAT 2025, Chandigarh, India, August 7-9, 2025, Proceedings, Part I (Communications in Computer and Information Science)

Rawat, Brajesh (EDT)/ Shirmali, Hitesh (EDT)/ Malhotra, Shivani (EDT)

ウェブストア価格 ¥29,989（本体¥27,263）
Springer, Berlin; Springer（2026/06発売）
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版
商品コード 9783032263049

Full Description

This two-volume set CCIS 2983-2984 constitutes the referred proceedings of the 29th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2025, held in Chandigarh, India, during August 7-9, 2025.

The 105 full papers included in these volumes were carefully reviewed and selected from 415 submissions. They are organized into thematic sections as follows: Emerging Devices and Technology; Analog and Mixed Signal Design; Digital Design and Systems; Memory and Computing Architectures; RF and Embedded Systems; AI Accelerators and Advanced Architectures.