High-Z Materials for X-ray Detection : Material Properties and Characterization Techniques

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High-Z Materials for X-ray Detection : Material Properties and Characterization Techniques

Abbene, Leonardo (EDT)/ Iniewski, Krzysztof (Kris) (EDT)

ウェブストア価格 ¥14,366（本体¥13,060）
Springer International Publishing AG（2024/01発売）
外貨定価 US$ 64.99
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 246 p.
商品コード 9783031209574

Full Description

This book will provide readers with a good overview of some of most recent advances in the field of High-Z materials. There will be a good mixture of general chapters in both technology and applications in opto-electronics, X-ray detection and emerging optoelectronics applications.