Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits

ホーム
> 洋書
> ドイツ書
> Mathematics, Sciences & Technology
> Technology
> electronics, electrical engineering, telecommunications

個数：

ポイントキャンペーン

Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits

Raji, Mohsen/ Ghavami, Behnam

ウェブストア価格 ¥21,962（本体¥19,966）
Springer International Publishing AG（2023/11発売）
外貨定価 US$ 99.99
クリスマスポイント2倍キャンペーン（～12/25）
ポイント 398pt

オンデマンド(OD/POD)版です。キャンセルは承れません。

≪洋書のご注文について≫ 「海外取次在庫あり」「国内在庫僅少」および「国内仕入れ先からお取り寄せいたします」表示の商品でもクリスマス前(12/20～12/25)および年末年始までにお届けできないことがございます。あらかじめご了承ください。

【入荷遅延について】
世界情勢の影響により、海外からお取り寄せとなる洋書・洋古書の入荷が、表示している標準的な納期よりも遅延する場合がございます。
おそれいりますが、あらかじめご了承くださいますようお願い申し上げます。

◆画像の表紙や帯等は実物とは異なる場合があります。

◆ウェブストアでの洋書販売価格は、弊社店舗等での販売価格とは異なります。
また、洋書販売価格は、ご注文確定時点での日本円価格となります。
ご注文確定後に、同じ洋書の販売価格が変動しても、それは反映されません。

製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 107 p.
言語 ENG
商品コード 9783031153471

Full Description

They address modeling approaches and techniques for evaluation and improvement of lifetime reliability for nano-scale CMOS digital circuits, as well as design algorithms that are the cornerstone of Computer Aided Design (CAD) of reliable VLSI circuits.