Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs （2021）

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Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs （2021）

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  • 製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 131 p.
  • 商品コード 9783030683672

Full Description

transistor reordering, decoupling cells, Schmitt Trigger, and sleep transistor) as alternatives to attenuate the unwanted effects on FinFET logic cells.

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