Short Wavelength Laboratory Sources : Principles and Practices

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Short Wavelength Laboratory Sources : Principles and Practices

Bleiner, Davide (EDT)/ Costello, John (EDT)/ de Dortan, Francois (EDT)

ウェブストア価格 ¥37,945（本体¥34,496）
Royal Society of Chemistry（2014/12発売）
外貨定価 US$ 175.00
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製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 467 p.
言語 ENG
商品コード 9781849734561
DDC分類 541.382

Full Description

Our ability to manipulate short wavelength radiation (0.01-100nm, equivalent to 120keV-12eV) has increased significantly over the last three decades. This has lead to major advances in applications in a wide range of disciplines such as: the life and medical sciences, including cancer-related studies; environmental science, including studies of pollution and its effects; archaeology and other cultural heritage disciplines; and materials science. Although expansion in application areas is due largely to modern synchrotron sources, many applications will not become widespread, and therefore routinely available as analytical tools, if they are confined to synchrotrons. There is a need to develop bright but small and low cost X-ray sources, not to replace synchrotrons but to complement them and this book will look at how to facilitate these developments.

Written by a distinguished team of international authors, this book is based on the COST Action MP0601: Short Wavelength Laboratory Sources. The contents are divided into five main sections. the introductory section provides a comprehensive introduction to the fundamentals of radiation, generation mechanisms and short wavelength laboratory sources. The middle sections focus on modelling and simulation, source development: improvement and characterisation and integrated systems: sources, optics and detectors. The final section looks at recent applications.

Aimed at academic and industrial researchers in physical chemistry and chemical physics, the contents provides practical information about the implementation of short wavelength laboratory sources and their applications.

Preface;

Section 1: Introduction;

Section 2: Modelling & Simulation;

Section 3: Source Development, Improvement and Characterisation;

Section 4: Integrated Systems: Sources, Optics and Detectors;

Section 5: Applications;

Index