Advanced Production Testing of RF, SoC, and SiP Devices

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Advanced Production Testing of RF, SoC, and SiP Devices

Engelhardt, Michael/ Kelly, Joseph

ウェブストア価格 ¥21,378（本体¥19,435）
Artech House Publishers（2006/10発売）
外貨定価 US$ 104.00
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製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 326 p.
言語 ENG
商品コード 9781580537094
DDC分類 621.3815

Full Description

Featuring invaluable input from industry-leading companies and highly-regarded experts in the field, this first-of-its kind resource offers experienced engineers a comprehensive understanding of the advanced topics in RF, SiP (system-in-package), and SoC (system-on-a-chip) production testing that are critical to their work involving semiconductor devices. The book covers key measurement concepts for semiconductor device testing and assists engineers in explaining these concepts to management to aid in the reduction of project cost, time, and resources. Based on real-world experience and packed with time-saving equations, this in-depth volume offers professionals practical information on essential topics that have never been presented in a single reference before.

Introduction. Production Testing Equipment. Applied Tests for RF and SOC Devices. Advances in Testing RF and SOC Devices. Applications. Calibration. Cost of Test. Load Boards. Test Sockets and Contractors. Handlers. Wafer Probing.