Bias Temperature Instability for Devices and Circuits

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Bias Temperature Instability for Devices and Circuits

Grasser, Tibor (EDT)

ウェブストア価格 ¥25,172（本体¥22,884）
Springer-Verlag New York Inc.（2016/10発売）
外貨定価 US$ 119.99
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 810 p.
言語 ENG
商品コード 9781493955299
DDC分類 621

Full Description

This book provides a single-source reference to one of the more challenging reliability issues plaguing modern semiconductor technologies, negative bias temperature instability. Readers will benefit from state-of-the art coverage of research in topics such as time dependent defect spectroscopy, anomalous defect behavior, stochastic modeling with additional metastable states, multiphonon theory, compact modeling with RC ladders and implications on device reliability and lifetime.

Introduction.- Characterization, Experimental Challenges.- Advanced Characterization.- Characterization of Nanoscale Devices.- Statistical Properties/Variability.- Theoretical Understanding.- Possible Defects: Experimental.- Possible Defects: First Principles.- Modeling.- Technological Impact.- Silicon dioxides/SiON.- High-k oxides.- Alternative technologies.- Circuits.