CMOS Test and Evaluation : A Physical Perspective （2015）

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CMOS Test and Evaluation : A Physical Perspective （2015）

Bhushan, Manjul/ Ketchen, Mark B.

ウェブストア価格 ¥41,748（本体¥37,953）
Springer-Verlag New York Inc.（2014/12発売）
外貨定価 US$ 199.00
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製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 424 p.
言語 ENG
商品コード 9781493913480
DDC分類 621

Full Description

CMOS Test and Evaluation: A Physical Perspective is a single source for an integrated view of test and data analysis methodology for CMOS products, covering circuit sensitivities to MOSFET characteristics, impact of silicon technology process variability, applications of embedded test structures and sensors, product yield, and reliability over the lifetime of the product. This book also covers statistical data analysis and visualization techniques, test equipment and CMOS product specifications, and examines product behavior over its full voltage, temperature and frequency range.

Introduction.- CMOS Circuit Basics.- CMOS Storage Elements and Synchronous Logic.- IDDQ and Power.- Embedded PVT Monitors.- Variability.- Product Chip Test and Characterization.- Reliability, Burn-In and Guardbands.- Data Analysis and Characterization.- CMOS Metrics and Model Evaluation.