Nanometer Variation-Tolerant SRAM : Circuits and Statistical Design for Yield （2013）

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Nanometer Variation-Tolerant SRAM : Circuits and Statistical Design for Yield （2013）

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  • 製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 172 p.
  • 言語 ENG
  • 商品コード 9781493902200
  • DDC分類 621

Full Description

This essential reference combines state-of-the-art circuit techniques and statistical methodologies to optimize SRAM performance and yield in nanometer technologies. It shows designers how to apply practical techniques that optimize memory yield.

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