Reliable Knowledge Discovery （2012）

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Reliable Knowledge Discovery （2012）

Dai, Honghua (EDT)/ Liu, James N. K. (EDT)/ Smirnov, Evgueni (EDT)

ウェブストア価格 ¥48,319（本体¥43,927）
Springer-Verlag New York Inc.（2014/04発売）
外貨定価 US$ 219.99
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 310 p.
言語 ENG
商品コード 9781489995322
DDC分類 006

Full Description

Reliable Knowledge Discovery focuses on theory, methods, and techniques for RKDD, a new sub-field of KDD. It studies the theory and methods to assure the reliability and trustworthiness of discovered knowledge and to maintain the stability and consistency of knowledge discovery processes.