Microelectronic Test Structures for CMOS Technology （2011）

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Microelectronic Test Structures for CMOS Technology （2011）

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  • 製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 373 p.
  • 言語 ENG
  • 商品コード 9781489990556
  • DDC分類 621

Full Description

Microelectronic Test Structures for CMOS Technology and Products addresses the basic concepts of the design of test structures for incorporation within test-vehicles, scribe-lines, and CMOS products.

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