The Core Test Wrapper Handbook : Rationale and Application of IEEE Std. 1500™ (Frontiers in Electronic Testing) / da Silva, Francisco/ McLaurin, Teresa/ Waayers, Tom

The Core Test Wrapper Handbook : Rationale and Application of IEEE Std. 1500™ (Frontiers in Electronic Testing) （2006）

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The Core Test Wrapper Handbook : Rationale and Application of IEEE Std. 1500™ (Frontiers in Electronic Testing) （2006）

da Silva, Francisco/ McLaurin, Teresa/ Waayers, Tom

ウェブストア価格 ¥26,017（本体¥23,652）
Springer-Verlag New York Inc.（2014/10発売）
外貨定価 US$ 119.99
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 276 p.
言語 ENG
商品コード 9781489987693
DDC分類 621

Full Description

I ran into first hand the problem of trying to deliver what used to be a whole chip with something on the order of over 400 interconnect signals to a design team that was going to stuff it into a package with less than 220 signal pins and surround it with other logic.