Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits : Mitigating Soft Errors and Process Variations （2010）

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Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits : Mitigating Soft Errors and Process Variations （2010）

Garg, Rajesh

ウェブストア価格 ¥26,692（本体¥24,266）
Springer-Verlag New York Inc.（2014/11発売）
外貨定価 US$ 119.99
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 212 p.
言語 ENG
商品コード 9781489985101
DDC分類 621

Full Description

This monograph is motivated by the challenges faced in designing reliable VLSI systems in modern VLSI processes. The work presented in this research mo- graph presents several analysis and design techniques with the goal of realizing VLSI circuits, which are radiation and process variation tolerant.