Advanced Test Methods for SRAMs : Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies （2010）

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Advanced Test Methods for SRAMs : Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies （2010）

Bosio, Alberto/ Dilillo, Luigi/ Girard, Patrick

ウェブストア価格 ¥26,524（本体¥24,113）
Springer-Verlag New York Inc.（2014/09発売）
外貨定価 US$ 119.99
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 171 p.
言語 ENG
商品コード 9781489983145
DDC分類 621

Full Description

Modern electronics depend on nanoscaled technologies that present new challenges in terms of testing and diagnostics. Classical methods for testing memory are designed to handle the so-called "static faults," but these test solutions are not sufficient for faults that are emerging in the latest Very Deep Sub-Micron (VDSM) technologies.