Reliability of Nanoscale Circuits and Systems : Methodologies and Circuit Architectures （2011）

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Reliability of Nanoscale Circuits and Systems : Methodologies and Circuit Architectures （2011）

Stanisavljević, Miloš/ Schmid, Alexandre/ Leblebici, Yusuf

ウェブストア価格 ¥22,764（本体¥20,695）
Springer-Verlag New York Inc.（2014/10発売）
外貨定価 US$ 109.99
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 195 p.
言語 ENG
商品コード 9781489982544
DDC分類 621

Full Description

This book is intended to give a general overview of reliability, faults, fault models, nanotechnology, nanodevices, fault-tolerant architectures and reliability evaluation techniques. Additionally, the book provides an in depth state-of-the-art research results and methods for fault tolerance as well as the methodology for designing fault-tolerant systems out of highly unreliable components.

Introduction.- Reliability, Faults and Fault Models.- Nanotechnology and Nanodevices.- Fault-Tolerant Architectures and Approaches.- Reliability Evaluation Techniques.- Averaging Design Implementations.- Statistical Evaluation of Fault-Tolerance Using Proability Density Functions.- System Level Reliability Evaluation and Optimization.- Summary and Conclusions.- References.