Reliability of Microtechnology : Interconnects, Devices and Systems （2011）

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Reliability of Microtechnology : Interconnects, Devices and Systems （2011）

Liu, Johan/ Salmela, Olli/ Sarkka, Jussi

ウェブストア価格 ¥35,183（本体¥31,985）
Springer-Verlag New York Inc.（2014/10発売）
外貨定価 US$ 169.99
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 204 p.
言語 ENG
商品コード 9781489982117
DDC分類 621

Full Description

Reliability of Microtechnology discusses the reliability of microtechnology products from the bottom up, beginning with devices and extending to systems. The book's focus includes but is not limited to reliability issues of interconnects, the methodology of reliability concepts and general failure mechanisms. Specific failure modes in solder and conductive adhesives are discussed at great length. Coverage of accelerated testing, component and system level reliability, and reliability design for manufacturability are also described in detail.

The book also includes exercises and detailed solutions at the end of each chapter.

Introduction to Reliability and its Importance.- Reliability Metrology.- General Failure Mechanisms of Microsystems.- Solder and Conductive Adhesive Joint Reliability.- Accelerated Testing.- Reliability Design for Manufacturability.- Component Reliability.- System Level Reliability.- Reliability and Quality Management of Microsystem.- Experimental Tools for Reliability Analysis.