Principles of Analytical Electron Microscopy

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Principles of Analytical Electron Microscopy

Goldstein, Joseph (EDT)/ Joy, David C. (EDT)/ Romig Jr., Alton D. (EDT)

ウェブストア価格 ¥35,454（本体¥32,231）
Springer-Verlag New York Inc.（2013/07発売）
外貨定価 US$ 169.00
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 448 p.
言語 ENG
商品コード 9781489920393
DDC分類 570

Full Description

All currently important areas in analytical electron microscopy-including electron optics, electron beam/specimen interactions, image formation, x-ray microanalysis, energy-loss spectroscopy, electron diffraction and specimen effects-have been given thorough attention.