Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2

個数：

Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2

Cohen, Samuel H. (EDT)/ Lightbody, Marcia L. (EDT)

ウェブストア価格 ¥35,662（本体¥32,420）
Springer-Verlag New York Inc.（2013/06発売）
外貨定価 US$ 169.99
ポイント 324pt

オンデマンド(OD/POD)版です。キャンセルは承れません。

【入荷遅延について】
世界情勢の影響により、海外からお取り寄せとなる洋書・洋古書の入荷が、表示している標準的な納期よりも遅延する場合がございます。
おそれいりますが、あらかじめご了承くださいますようお願い申し上げます。

◆画像の表紙や帯等は実物とは異なる場合があります。

◆ウェブストアでの洋書販売価格は、弊社店舗等での販売価格とは異なります。
また、洋書販売価格は、ご注文確定時点での日本円価格となります。
ご注文確定後に、同じ洋書の販売価格が変動しても、それは反映されません。

製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 250 p.
言語 ENG
商品コード 9781475793277
DDC分類 620

Full Description

This book represents the compilation of papers presented at the second Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy (AFM/STM) Symposium, held June 7 to 9, 1994, in Natick, Massachusetts, at Natick Research, Development and Engineering Center, now part ofU.S. Army Soldier Systems Command.