Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

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Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Echlin, Patrick/ Fiori, C.E./ Goldstein, Joseph

ウェブストア価格 ¥23,074（本体¥20,977）
Springer-Verlag New York Inc.（2013/06発売）
外貨定価 US$ 109.99
ポイント 209pt

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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 454 p.
言語 ENG
商品コード 9781475790290
DDC分類 616

Full Description

This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec tron microscopy and x-ray microanalysis which have been taught annually at Lehigh University since 1972.