MEMS Reliability (MEMS Reference Shelf) （2011）

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MEMS Reliability (MEMS Reference Shelf) （2011）

Hartzell, Allyson L./ da Silva, Mark G./ Shea, Herbert R.

ウェブストア価格 ¥26,903（本体¥24,458）
Springer-Verlag New York Inc.（2012/12発売）
外貨定価 US$ 129.99
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 291 p.
言語 ENG
商品コード 9781461427360
DDC分類 621

Full Description

The successful launch of viable MEMs product hinges on MEMS reliability, the reliability and qualification for MEMs based products is not widely understood. Companies that have a deep understanding of MEMs reliability view the information as a competitive advantage and are reluctant to share it.

MEMs Reliability, focuses on the reliability and manufacturability of MEMS at a fundamental level by addressing process development and characterization, material property characterization, failure mechanisms and physics of failure (POF), design strategies for improving yield, design for reliability (DFR), packaging and testing.

Introduction.- Reliability /Weibull, bathtub curve, basics (What is reliability?).- Failure Modes and Physics of Failure (POF).- Strategies for identifying root cause (FMEA).- Manufacturing Processes & Procedures.- Testing & Qualification Processes & Procedures.- Improving Reliability: Techniques and Tools.- Design for Reliability (DFR).