IDDQ Testing of VLSI Circuits

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IDDQ Testing of VLSI Circuits

Gulati, Ravi K. (EDT)/ Hawkins, Charles F. (EDT)

ウェブストア価格 ¥23,074（本体¥20,977）
Springer-Verlag New York Inc.（2012/10発売）
外貨定価 US$ 109.99
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 124 p.
言語 ENG
商品コード 9781461363774
DDC分類 670

Full Description

Power supply current monitoring to detect CMOS IC defects during production testing quietly laid down its roots in the mid-1970s. New results on test generation, fault simulation, design for testability, built-in self-test, and diagnosis for this style of testing have since been reported.