Testability Concepts for Digital ICs : The Macro Test Approach (Frontiers in Electronic Testing)

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Testability Concepts for Digital ICs : The Macro Test Approach (Frontiers in Electronic Testing)

Beenker, F.P.M./ Bennetts, R.G./ Thijssen, A.P.

ウェブストア価格 ¥38,294（本体¥34,813）
Springer-Verlag New York Inc.（2012/10発売）
外貨定価 US$ 169.99
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 212 p.
言語 ENG
商品コード 9781461360049
DDC分類 621

Full Description

Preface Testing Integrated Circuits for manufacturing defects includes four basic disciplines. Thirdly, knowledge of how to create a test program for an IC which is targeted on detecting these defects, and finally, understanding of the hardware, Automatic Test Equipment, to run the test on.