Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis : Third Edition （3RD）

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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis : Third Edition （3RD）

Goldstein, Joseph/ Newbury, Dale E./ Joy, David C.

ウェブストア価格 ¥25,172（本体¥22,884）
Springer-Verlag New York Inc.（2013/05発売）
外貨定価 US$ 119.99
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 689 p.
言語 ENG
商品コード 9781461349693
DDC分類 620

Full Description

In the decade since the publication of the second edition of Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, there has been a great expansion in the capabilities of the basic scanning electron microscope (SEM) and the x-ray spectrometers.