Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis (4TH)
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis (4TH)  Paperback,  言語:ENG

Goldstein, Joseph I./ Newbury, Dale E./ Michael, Joseph R.

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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis : Third Edition (3RD)
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis : Third Edition (3RD)  Paperback,  言語:ENG

Goldstein, Joseph/ Newbury, Dale E./ Joy, David C.

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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis : A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists (1981)
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis : A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists (1981)  Paperback,  言語:ENG

Goldstein, Joseph/ Newbury, Dale E./ Echlin, Patrick

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X-Ray Spectrometry in Electron Beam Instruments
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X-Ray Spectrometry in Electron Beam Instruments  Paperback,  言語:ENG

Goldstein, Joseph (EDT)/ Newbury, Dale E. (EDT)/ Williams, David B. (EDT)

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Scanning Microscopies 2012 : Advanced Microscopy Technologies for Defense, Homeland Security, Forensic, Life, (The International Society for Optical E
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Scanning Microscopies 2012 : Advanced Microscopy Technologies for Defense, Homeland Security, Forensic, Life, (The International Society for Optical E  Paperback

Postek, Michael T./ Newbury, Dale E./ Platek, S. Frank

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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis (3rd ed. 2003. Corr. 4th printing)
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis (3rd ed. 2003. Corr. 4th printing)  Hardcover,  言語:ENG

Goldstein, Joseph I. (EDT)/ Newbury, Dale E./ Joy, D. C. (et al.)

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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis : A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis : A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists  Hardcover,  言語:ENG

Newbury, Dale E./ Echlin, Patrick/ Joy, David C.

  • Kluwer Academic / Plenum Publishers(1981/11発売)
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