Interfacial Compatibility in Microelectronics : Moving Away from the Trial and Error Approach (Microsystems) （2012）

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Interfacial Compatibility in Microelectronics : Moving Away from the Trial and Error Approach (Microsystems) （2012）

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  • 製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 218 p.
  • 言語 ENG
  • 商品コード 9781447160687
  • DDC分類 620

Full Description

This book provides solutions to several common reliability issues in microsystem packaging. It teaches the reader methods to understand and predict failure mechanisms at interfaces between dissimilar materials.

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