Signal Measurement and Estimation Techniques for Micro and Nanotechnology

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Signal Measurement and Estimation Techniques for Micro and Nanotechnology

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  • 製本 Hardcover:ハードカバー版/ページ数 242 p./サイズ 155 illus.
  • 言語 ENG
  • 商品コード 9781441999450
  • DDC分類 670

Full Description

Signal Measurement and Estimation Techniques for Micro and Nanotechnology  discusses micro, nano and robotic cells and gives a state-of-the-art  presentation of the different techniques and solutions to measure and estimate  signals at the micro and nano scale. New technologies and applications such as  micromanipulation (artificial components, biological objects), micro-assembly  (MEMS, MOEMS, NEMS) and material and surface force characterization are covered.  The importance of sensing at the micro and nano scale is presented as a key  issue in control systems, as well as for understanding the physical phenomena of  these systems. The book also:

   
Explains issues that make signal measurement and estimation techniques  difficult at the micro-nano-scale and offers solutions

   
Discusses automated micro-assembly, and control of micro-nano robotic devices

   
Presents and links signal measurement and estimation techniques for  micro-nano scale systems with microfabrication methods, sensors integration and  control schemes

Signal Measurement and Estimation Techniques for Micro and  Nanotechnology is a must-read for researchers and engineers working in MEMS and  control systems.

Contents

Microscale Specificities.- Observer Techniques Applied to the Control of Piezoelectric Microactuators.- Measurement and Control for High-Speed Sub-Atomic Positioning in Scanning Probe Microscopes.- Microrobotic tools for the measurement of small forces.- Distinguishing Healthy and Defective Oocytes during Intracytoplasmic Sperm Injection.- In situ Characterizations of Thin-film Nanostructures with Large-range Direct Force Sensing.- A mechanism approach for enhancing the dynamic range and linearity of MEMS Optical Force Sensing.- Observer-based estimation of weak forces in a nanosystem measurement device.

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