MEMS Reliability (MEMS Reference Shelf)

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MEMS Reliability (MEMS Reference Shelf)

Hartzell, Allyson L./ da Silva, Mark G./ Shea, Herbert R./ Senturia, S

ウェブストア価格 ¥37,252（本体¥33,866）
Springer Verlag（2010/12発売）
外貨定価 US$ 179.99
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製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 291 p.
言語 ENG
商品コード 9781441960177
DDC分類 621

基本説明

Demonstrates how to design MEMs for reliability during the product life cycle focusing CAD methodologies and system level architecture.

Full Description

The successful launch of viable MEMs product hinges on MEMS reliability, the reliability and qualification for MEMs based products is not widely understood. Companies that have a deep understanding of MEMs reliability view the information as a competitive advantage and are reluctant to share it.

MEMs Reliability, focuses on the reliability and manufacturability of MEMS at a fundamental level by addressing process development and characterization, material property characterization, failure mechanisms and physics of failure (POF), design strategies for improving yield, design for reliability (DFR), packaging and testing.

Introduction.- Reliability /Weibull, bathtub curve, basics (What is reliability?).- Failure Modes and Physics of Failure (POF).- Strategies for identifying root cause (FMEA).- Manufacturing Processes & Procedures.- Testing & Qualification Processes & Procedures.- Improving Reliability: Techniques and Tools.- Design for Reliability (DFR).