Matching Properties of Deep Sub-micron Mos Transistors (The Springer International Series in Engineering and Computer Science)

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Matching Properties of Deep Sub-micron Mos Transistors (The Springer International Series in Engineering and Computer Science)

Croon, Jeroen A./ Sansen, Willy/ Maes, Herman E.

ウェブストア価格 ¥36,858（本体¥33,508）
Springer（2010/10発売）
外貨定価 US$ 169.99
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製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 218 p.
言語 ENG
商品コード 9781441937186
DDC分類 621

Full Description

The model is illustrated by dimensioning the unit current cell of a current-steering D/A converter.The most commonly used methods to extract the matching properties of a technology are bench-marked with respect to model accuracy, measurement accuracy and speed, and physical contents of the extracted parameters.