Scanning Microscopy for Nanotechnology : Techniques and Applications

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Scanning Microscopy for Nanotechnology : Techniques and Applications

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  • 製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 536 p.
  • 言語 ENG
  • 商品コード 9781441922090
  • DDC分類 620

Full Description

Scanning electron microscopy (SEM) can be exploited not only for nanomaterials characterization but also integrated with new technologies for in-situ nanomaterials engineering and manipulation.

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