Nanometer Technology Designs : High Quality Delay Tests (Frontiers in Electronic Testing) 〈Vol. 38〉

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Nanometer Technology Designs : High Quality Delay Tests (Frontiers in Electronic Testing) 〈Vol. 38〉

Tehranipoor, M./ Ahmed, N.

ウェブストア価格 ¥23,849（本体¥21,681）
Springer（2008/01発売）
外貨定価 US$ 109.99
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製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 281 p.／サイズ 140 illus.
言語 ENG
商品コード 9780387764863
DDC分類 621

Full Description

Supply noise (including IR-drop, ground bounce, and Ldi/dt) effects on chip performance, high test pattern volume, low fault/defect coverage, small delay defect test pattern generation, high cost of test implementation and application, and utilizing low-cost testers are among these challenges.