Emerging Nanotechnologies : Test, Defect Tolerance, and Reliability (Frontiers in Electronic Testing) 〈Vol. 37〉

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Emerging Nanotechnologies : Test, Defect Tolerance, and Reliability (Frontiers in Electronic Testing) 〈Vol. 37〉

Tehranipoor, M. (EDT)

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Springer（2008/06発売）
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製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 408 p.／サイズ 200 illus.
言語 ENG
商品コード 9780387747460
DDC分類 621

Full Description

Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance and Reliability covers various technologies that have been developing over the last decades such as chemically assembled electronic nanotechnology, Quantum-dot Cellular Automata (QCA), and nanowires and carbon nanotubes.