Semiconductor Devices : Defects, Reliability and ESD Protection

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Semiconductor Devices : Defects, Reliability and ESD Protection

Vashchenko, V. A./ Sinkevitch, V.

ウェブストア価格 ¥24,777（本体¥22,525）
Springer（2007/12発売）
外貨定価 US$ 109.99
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製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 350 p.
言語 ENG
商品コード 9780387745138
DDC分類 621

Full Description

In most cases the reliability assessment involves statistical methods for safe operating area and long term re- ability parameters at the development of semiconductor processes, components and systems.