Digital Noise Monitoring of Defect Origin (Lecture Notes in Electrical Engineering) 〈Vol. 2〉

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Digital Noise Monitoring of Defect Origin (Lecture Notes in Electrical Engineering) 〈Vol. 2〉

Aliev, Telman

ウェブストア価格 ¥24,004（本体¥21,822）
Springer（2007/08発売）
外貨定価 US$ 109.99
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製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 275 p.
言語 ENG
商品コード 9780387717531
DDC分類 620

基本説明

Explores the initial stage of the origin of the defect taking into account technical, biological, and other features of several technologies.

Full Description

Digital Noise Monitoring of Defect Origin is for both academics and professionals in the fields of engineering, biological sciences, physical science, and automation with particular emphasis on power engineering, oil-and-gas extraction, and aviation among others.