Principles of Electron Optics, Volume 3 : Fundamental Wave Optics （2ND）

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Principles of Electron Optics, Volume 3 : Fundamental Wave Optics （2ND）

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  • 製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 558 p.
  • 言語 ENG
  • 商品コード 9780128189795
  • DDC分類 537.56

Full Description

Principles of Electron Optic: Volume Three: Wave Optics, discusses this essential topic in microscopy to help readers understand the propagation of electrons from the source to the specimen, and through the latter (and from it) to the image plane of the instrument. In addition, it also explains interference phenomena, notably holography, and informal coherence theory. This third volume accompanies volumes one and two that cover new content on holography and interference, improved and new modes of image formation, aberration corrected imaging, simulation, and measurement, 3D-reconstruction, and more.

The study of such beams forms the subject of electron optics, which divides naturally into geometrical optics where effects due to wavelength are neglected, with wave optics considered.

Contents

54. Introduction

Part XI - Wave Mechanics 55. The Schrödinger Equation 56. The Relativistic Wave Equation 57. The Eikonal Approximation 58. Paraxial Wave Optics 59. The General Theory of Electron Diffraction and Interference 60. Elementary Diffraction Patterns

Part XII, Electron Interference and Electron Holography 61. General Introduction 62. Interferometry 63. Holography

Part XIII, Theory of Image Formation 64. General Introduction 65. Fundamentals of Transfer Theory 66. The Theory of Bright-field Imaging. 67. Image Formation in the Scanning Transmission Electron Microscope 68. Statistical Parameter Estimation Theory

Part XIV - Electron-specimen Interactions 69. Electron Interactions in Thin Specimens

Part XV - Digital Image Processing 70. Introduction 71. Acquisition, Sampling and Coding 72. Enhancement 73. Linear Restoration 74. Nonlinear Restoration - the Phase Problem 75. Three-dimensional Reconstruction 76. Image Analysis 77. Microscope Parameter Measurement and Instrument Control

Part XVI - Coherence, Brightness and Spectral Functions 78. Coherence and the Brightness Functions 79. Wigner Optics

PART XVII - Vortex Studies, the Quantum Electron Microscope 80. Orbital Angular Momentum, Vortex Beams and the Quantum Electron Microscope