Materials Characterization Using Nondestructive Evaluation (NDE) Methods (Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials) / Huebschen, Gerhard (EDT)/ Altpeter, Iris (EDT)/ Tschuncky, Ralf (EDT)

非破壊試験法による材料キャラクタリゼーション<br>Materials Characterization Using Nondestructive Evaluation (NDE) Methods (Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials)

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非破壊試験法による材料キャラクタリゼーション
Materials Characterization Using Nondestructive Evaluation (NDE) Methods (Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials)

Huebschen, Gerhard (EDT)/ Altpeter, Iris (EDT)/ Tschuncky, Ralf (EDT)

ウェブストア価格 ¥49,300（本体¥44,819）
Woodhead Publishing Ltd（2016/04発売）
外貨定価 US$ 235.00
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製本 Hardcover:ハードカバー版／ページ数 320 p.
言語 ENG
商品コード 9780081000403
DDC分類 620.1127

Full Description

Materials Characterization Using Nondestructive Evaluation (NDE) Methods discusses NDT methods and how they are highly desirable for both long-term monitoring and short-term assessment of materials, providing crucial early warning that the fatigue life of a material has elapsed, thus helping to prevent service failures.

Materials Characterization Using Nondestructive Evaluation (NDE) Methods gives an overview of established and new NDT techniques for the characterization of materials, with a focus on materials used in the automotive, aerospace, power plants, and infrastructure construction industries.

Each chapter focuses on a different NDT technique and indicates the potential of the method by selected examples of applications. Methods covered include scanning and transmission electron microscopy, X-ray microtomography and diffraction, ultrasonic, electromagnetic, microwave, and hybrid techniques. The authors review both the determination of microstructure properties, including phase content and grain size, and the determination of mechanical properties, such as hardness, toughness, yield strength, texture, and residual stress.

1. Atomic force microscopy (AFM) for materials characterization
2. Scanning electron microscopy (SEM) and transmission electron microscopy (TEM) for materials characterization
3. X-ray micro-tomography for materials characterization
4. X-ray diffraction (XRD) techniques for materials characterization
5. Microwave, millimeter wave and terahertz techniques for materials characterization
6. Acoustical microscopy for materials characterization
7. Ultrasonic techniques for materials characterization
8. Electromagnetic techniques for materials characterization
9. Hybrid methods for materials characterization