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目次
ソフトウェアの現状
爆発するソフトウェアの開発とテスト
直交表によるソフトウェアテストの概要
HAYST法によるテスト戦略
HAYST法で使用する直交表
直交表への割付けテクニック
禁則の回避
組合せ網羅率の検証
テスト実施とバグの解析法
特殊な割付け
HAYST法の実際
HAYST法の組織的展開
著者等紹介
吉澤正孝[ヨシザワマサタカ]
1947年生まれ。1966年岩槻光機(株)入社、品質管理課、設計部。1971年富士ゼロックス(株)入社、設計部、技術サポート部、NX運動推進室。1990年米国Xerox社へ出向。1993年帰国後、1996年NX運動室長、1999年経営品質推進部長、2000年DPC商品化プロセス改革部長、2002年コーポレート経営品質推進部長、2004年CSR部シニアQMコンサルタント。デミング賞委員会委員、(財)日本規格協会実験計画法講師、品質工学講師、経営品質協議会運営委員など歴任。品質管理学会会員、品質工学会会員理事。2003年品質工学会より貢献賞金賞、2005年日本品質管理学会より品質管理推進功労賞受賞
秋山浩一[アキヤマコウイチ]
1962年生まれ。1985年青山学院大学理工学部物理学科卒業。同年富士ゼロックス(株)入社。現在、同社品質本部システム検証部ソフトウェア品質企画G技術主査。NPO法人ソフトウェアテスト技術振興協会理事。日本ソフトウェアテスト資格認定委員会(JSTQB)ステアリング委員
仙石太郎[センゴクタロウ]
1988年富士ゼロックス(株)入社、名古屋支店にてシステムセールスを担当。1995年営業力強化推進部に異動、次世代機のマーケティング、ミドル向け選抜研修、顧客価値創造型マーケティング・プログラムを開発。2000年よりKDI(Knowledge Dynamics Initiative)にて知識経営のコンサルティング・サービスの開発・展開に従事。現在、KDIグループの代表を務める(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)
※書籍に掲載されている著者及び編者、訳者、監修者、イラストレーターなどの紹介情報です。
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