内容説明
安全性と品質を支える非破壊検査法を完全解説。わかりやすくビジュアルに解説。
目次
非破壊検査の必要性
非破壊検査で見付けるべき欠陥とその特徴
機械、構造物などの健全性保証
代表的な非破壊検査とその特徴
目視試験（ＶＴ）
浸透探傷試験（ＰＴ）
磁粉探傷試験（ＭＴ）
渦電流探傷試験（ＥＴ）
放射線透過試験（ＲＴ）
超音波探傷試験（ＵＴ）〔ほか〕
著者等紹介
水谷義弘［ミズタニヨシヒロ］
１９７３年神奈川県横浜市生まれ。２００１年青山学院大学理工学研究科博士後期課程修了。博士（工学）取得。青山学院大学理工学部機械創造工学科助手。２００２年宇宙開発事業団技術研究本部宇宙開発特別研究員。２００３年東京工業大学大学院理工学研究科特任助教授。２００７年東京工業大学大学院理工学研究科准教授。２００９年オランダデルフト工科大学航空宇宙学科客員研究員（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）
※書籍に掲載されている著者及び編者、訳者、監修者、イラストレーターなどの紹介情報です。
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