光応用電磁界計測―RFエンジニアのためのテラヘルツフォトニクス入門

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光応用電磁界計測―RFエンジニアのためのテラヘルツフォトニクス入門

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  • サイズ B5判/ページ数 224p/高さ 22cm
  • 商品コード 9784627787919
  • NDC分類 547.5
  • Cコード C3054

出版社内容情報

《ミリ波・テラヘルツ波を光で計測する技術とは――6G時代のRFエンジニアに向けた入門書!》

6Gの基盤技術としても注目されるミリ波・テラヘルツ波は,電波と光の中間領域にあり,その技術開発には電波工学(エレクトロニクス)と光工学(フォトニクス)双方にまたがる知見が求められます.

しかし,従来まったく異なる技術分野とされてきた両者のギャップは大きく,一方に精通した研究者・技術者であっても,他方の知識習得にはかなりの困難が伴います.

本書は,そのようなはじめてミリ波・テラヘルツ波の領域へ踏み出そうという電波工学分野の読者に向けて,このギャップを埋め,エレクトロニクスからフォトニクスへの橋渡しをする入門書です.

光を用いて高周波電磁波を計測する技術(光応用電磁界計測:PEM)について,基礎原理からシステムの具体例までを体系的に解説するとともに,マイクロ波帯以下ではなじみがないフォトニクス特有の概念・知識を,わかりやすく丁寧に説明します.

来たるべき6G時代のRFエンジニアにとって,まさに必携の一冊となっています.

【目次】
第1章 はじめに
第2章 結晶光学
第3章 偏光状態の表現と解析
第4章 電気光学効果
第5章 光変調
第6章 非線形光学効果
第7章 電磁界の生成と放射
第8章 光学的アプローチによる高周波電磁波の発生
第9章 電磁波の伝搬特性
第10章 計測システムにおける信号と雑音
第11章 PEMシステムの動作原理と具体例


【目次】

内容説明

ミリ波・テラヘルツ波を光で計測する。基礎からシステム構成までをわかりやすく解説。

目次

第1章 はじめに
第2章 結晶光学
第3章 偏光状態の表現と解析
第4章 電気光学効果
第5章 光変調
第6章 非線形光学効果
第7章 電磁界の生成と放射
第8章 光学的アプローチによる高周波電磁波の発生
第9章 電磁波の伝搬特性
第10章 計測システムにおける信号と雑音
第11章 PEMシステムの動作原理と具体例

著者等紹介

佐々木愛一郎[ササキアイイチロウ]
1996年 東京理科大学理学部応用物理学科卒業。2026年 近畿大学工学部電子情報工学科教授。現在に至る。博士(工学)(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)
※書籍に掲載されている著者及び編者、訳者、監修者、イラストレーターなどの紹介情報です。

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