出版社内容情報
試料表面の組成・構造や電子物性に関する多彩な情報を引き出すことができるX線光電子分光法（XPS）は、表面分析の代表的な実験手法の一つである。本書では、XPSについての基礎的・理論的な解説から、試料調製法やデータ解析の仕方といった実践的な内容を丁寧に解説。また、放射光施設を利用した応用的な測定・解析例も多数紹介した。
XPSを利用し始めた学生・実務者はもちろん、さらに発展的な利用を検討している熟練者にも有用な一冊。
【目次】
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