出版社内容情報
元素組成と化学状態の定量分析を可能にするX線光電子分光法（XPS）は，半導体デバイスの微細化，触媒，電池材料，有機薄膜など，先端材料研究の進展に不可欠な分析技術として，その重要性を増している．
本書は，実用的なXPS入門書として好評を博した初版を全面的に改訂した最新版である．理論から測定・解析，そして先端応用事例までを一貫して徹底解説する．1～5章で，光電子発生の原理，装置構成，試料調製，測定・解析の要点といった，測定者が確実に抑えるべき基礎事項を解説．新設の6章「応用・発展」では，雰囲気測定，イメ
【目次】
1 X線光電子分光法（XPS）とは何か
1.1 光電子分光法の特徴
◆コーヒーブレイク◆ 光電子分光法で得られる情報とエネルギーの関係
1.2 なぜXPSで表面を分析できるのか
1.3 なぜXPSで元素組成を分析できるのか
1.4 なぜXPSで化学状態を分析できるのか
1.5 XPSの歴史と最近の潮流
2 光電子発生の原理
2.1 励起光の入射
2.1.1 光のエネルギーと偏光
2.1.2 エネルギーの単位
