内容説明
表面試料調製から測定法・構造解析法の最新の知見を集め、進展著しい表面プロセスの観測方法を詳述。表面・界面に関わる研究者・技術者必携の書。
目次
1 総論(固体表面基板;単結晶表面の指定 ほか)
2 試料調製法(表面試料の作製法;表面の清浄化 ほか)
3 表面測定法および構造解析法(オージェ電子分光;光電子分光 ほか)
4 表面プロセスの観測(吸着・脱離・化学反応のキネティックス;分子線散乱 ほか)
表面試料調製から測定法・構造解析法の最新の知見を集め、進展著しい表面プロセスの観測方法を詳述。表面・界面に関わる研究者・技術者必携の書。
1 総論(固体表面基板;単結晶表面の指定 ほか)
2 試料調製法(表面試料の作製法;表面の清浄化 ほか)
3 表面測定法および構造解析法(オージェ電子分光;光電子分光 ほか)
4 表面プロセスの観測(吸着・脱離・化学反応のキネティックス;分子線散乱 ほか)